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如何用afm测试pmma薄膜厚度

发布时间：2019-11-07 11:40:14 帮助了562人

摘要：XRD，SEM和AFM测试没有固定的序列。 1 XRD（X射线衍射）用于获得材料的组成，材料内部的原子或分子的结构。

XRD，SEM和AFM测试没有固定的序列。 1 XRD（X射线衍射）用于获得材料的组成，材料内部的原子或分子的结构。 SEM（扫描电子显微镜）是一种显微观察方法，可以直接使用样品表面材料的材料特性进行显微成像。

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